0 Commentarii
0 Distribuiri
17 Views
0 previzualizare
Căutare
Descoperă oameni noi, creează noi conexiuni și faceti-va noi prieteni
-
Vă rugăm să vă autentificați pentru a vă dori, partaja și comenta!
-
Scanning Probe Microscopy and Atomic Force AnalysisScanning Probe Microscopy (SPM) represents a departure from traditional "lens-based" imaging. Instead of using light or electrons, SPM utilizes a physical probe that "feels" the surface of a specimen. The most common variant, Atomic Force Microscopy (AFM), uses a sharp tip on a cantilever to measure mechanical forces between the tip and the sample. As the tip moves across the surface, a laser...0 Commentarii 0 Distribuiri 9 Views 0 previzualizare