0 التعليقات
0 المشاركات
15 مشاهدة
0 معاينة
البحث
إكتشاف أشخاص جدد وإنشاء اتصالات جديدة وصداقات جديدة
-
الرجاء تسجيل الدخول , للأعجاب والمشاركة والتعليق على هذا!
-
Scanning Probe Microscopy and Atomic Force AnalysisScanning Probe Microscopy (SPM) represents a departure from traditional "lens-based" imaging. Instead of using light or electrons, SPM utilizes a physical probe that "feels" the surface of a specimen. The most common variant, Atomic Force Microscopy (AFM), uses a sharp tip on a cantilever to measure mechanical forces between the tip and the sample. As the tip moves across the surface, a laser...0 التعليقات 0 المشاركات 9 مشاهدة 0 معاينة