0 Σχόλια
0 Μοιράστηκε
15 Views
0 Προεπισκόπηση
Αναζήτηση
Ανακάλυψε νέους ανθρώπους, δημιούργησε νέες συνδέσεις και κάνε καινούργιους φίλους
-
Παρακαλούμε συνδέσου στην Κοινότητά μας για να δηλώσεις τι σου αρέσει, να σχολιάσεις και να μοιραστείς με τους φίλους σου!
-
Scanning Probe Microscopy and Atomic Force AnalysisScanning Probe Microscopy (SPM) represents a departure from traditional "lens-based" imaging. Instead of using light or electrons, SPM utilizes a physical probe that "feels" the surface of a specimen. The most common variant, Atomic Force Microscopy (AFM), uses a sharp tip on a cantilever to measure mechanical forces between the tip and the sample. As the tip moves across the surface, a laser...0 Σχόλια 0 Μοιράστηκε 9 Views 0 Προεπισκόπηση